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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)
Xinmao Yin
(Autor)
·
Andrew T. S. Wee
(Autor)
·
Chi Sin Tang
(Autor)
·
Wiley-Vch
· Tapa Blanda
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés) - Yin, Xinmao ; Wee, Andrew T. S. ; Tang, Chi Sin
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Reseña del libro "Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (en Inglés)"
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
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Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
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El libro está escrito en Inglés.
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La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.
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