Name: Uncertainty Analysis For NIST Noise-Parameter Measurement (en Inglés)
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Author: U. S. Department of Commerce
ISBN: 9781494743970

portada Uncertainty Analysis For NIST Noise-Parameter Measurement (en Inglés)

Uncertainty Analysis For NIST Noise-Parameter Measurement (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

U. S. Department of Commerce

Editorial

Createspace

Idioma

Inglés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

25.4x17.8x0.2 cm

Peso

0.08 kg.

ISBN13

9781494743970

Categorías

Enciclopedias y obras de consulta

Uncertainty Analysis For NIST Noise-Parameter Measurement (en Inglés)

U. S. Department of Commerce (Autor) · Createspace · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Uncertainty Analysis For NIST Noise-Parameter Measurement (en Inglés)"

Some time ago, what is now the Electromagnetics Division of the National Institute of Standards and Technology (NIST) developed the capability to measure noise parameters of amplifiers [1,2]. Recently, modified methods and analysis have been developed and have been applied both to amplifiers [3] and to transistors [4], the latter in an on-wafer environment. For such measurements to be meaningful, the results must be accompanied by corresponding uncertainties.