Name: Thermal-Aware Testing of Digital Vlsi Circuits and Systems (en Inglés)
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Availability: InStock
Author: Santanu Chattopadhyay
ISBN: 9780815378822

portada Thermal-Aware Testing of Digital Vlsi Circuits and Systems (en Inglés)

Thermal-Aware Testing of Digital Vlsi Circuits and Systems (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Crc Press

Autor

Santanu Chattopadhyay

Año

2018

Idioma

Inglés

N° páginas

138

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN13

9780815378822

N° edición

Categorías

Arquitectura y diseño lógico de ordenadores

Thermal-Aware Testing of Digital Vlsi Circuits and Systems (en Inglés)

Santanu Chattopadhyay (Autor) · Crc Press · Tapa Dura

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Reseña del libro "Thermal-Aware Testing of Digital Vlsi Circuits and Systems (en Inglés)"

This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips