Name: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2022, Montreal, Qc, Canada, August 26-27, 2022, (en Inglés)
Price: 2760.13 MXN
Availability: InStock
Author: Krzyzak, Adam ; Suen, Ching y. ; Torsello, Andrea
ISBN: 9783031230271

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portada Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2022, Montreal, Qc, Canada, August 26-27, 2022, (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Krzyzak, Adam ; Suen, Ching y. ; Torsello, Andrea

Idioma

Inglés

N° páginas

324

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 1.8 cm

Peso

0.48 kg.

ISBN13

9783031230271

Categorías

Ciencia y análisis de datos
Aplicaciones gráficas y multimedia
Algoritmos y estructuras de datos
Análisis y captura de datos

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2022, Montreal, Qc, Canada, August 26-27, 2022, (en Inglés)

Krzyzak, Adam ; Suen, Ching Y. ; Torsello, Andrea (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2022, Montreal, Qc, Canada, August 26-27, 2022, (en Inglés)"

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2022, held in Montreal, QC, Canada, in August 2022.The 30 papers together with 2 invited talks presented in this volume were carefully reviewed and selected from 50 submissions. The workshops presents papers on topics such as deep learning, processing, computer vision, machine learning and pattern recognition and much more.