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portada Strain and Dislocation Gradients from Diffraction: Spatially-Resolved Local Structure and Defects (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Idioma
Inglés
N° páginas
480
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
23.1 x 15.5 x 2.3 cm
Peso
0.86 kg.
ISBN13
9781908979629
Categorías

Strain and Dislocation Gradients from Diffraction: Spatially-Resolved Local Structure and Defects (en Inglés)

Barabash, Rozaliya I. ; Ice, Gene (Autor) · Imperial College Press · Tapa Dura

Strain and Dislocation Gradients from Diffraction: Spatially-Resolved Local Structure and Defects (en Inglés) - Barabash, Rozaliya I. ; Ice, Gene

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Reseña del libro "Strain and Dislocation Gradients from Diffraction: Spatially-Resolved Local Structure and Defects (en Inglés)"

This book highlights emerging diffraction studies of strain and dislocation gradients with mesoscale resolution, which is currently a focus of research at laboratories around the world. While ensemble-average diffraction techniques are mature, grain and subgrain level measurements needed to understand real materials are just emerging. In order to understand the diffraction signature of different defects, it is necessary to understand the distortions created by the defects and the corresponding changes in the reciprocal space of the non-ideal crystals.Starting with a review of defect classifications based on their displacement fields, this book then provides connections between different dislocation arrangements, including geometrically necessary and statistically stored dislocations, and other common defects and the corresponding changes in the reciprocal space and diffraction patterns. Subsequent chapters provide an overview of microdiffraction techniques developed during the last decade to extract information about strain and dislocation gradients. X-ray microdiffraction is a particularly exciting application compared with alternative probes of local crystalline structure, orientation and defect density, because it is inherently non-destructive and penetrating.

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