Name: reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies (en Inglés)
SKU: 2683783
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Author: Strong, Alvin W. ; Wu, Ernest Y. ; Vollertsen, Rolf-Peter
ISBN: 9780471731726

portada reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies (en Inglés)

reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Alvin W. Strong

Ernest Y. Wu

Rolf-Peter Vollertsen

Editorial

Wiley-IEEE Press

Idioma

Inglés

N° páginas

624

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

23.6x16.3x3.3 cm

Peso

0.98 kg.

ISBN

0471731722

ISBN13

9780471731726

Categorías

Ingeniería eléctrica

reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies (en Inglés)

Alvin W. Strong (Autor) · Ernest Y. Wu (Autor) · Rolf-Peter Vollertsen (Autor) · Wiley-IEEE Press · Tapa Dura

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Reseña del libro "reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies (en Inglés)"

This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms--from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.