¡Lee con Buscalibre y aprovecha los descuentos imperdibles!  Ver más

Enviar a
CUAUHTÉMOC, Ciudad de México
0

Mi Cuenta

  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional

menú

Selecciona tu país

América

Europa

Resto del mundo

portada Coherent Electron Microscopy: Designing Faster and Brighter Electron Sources (Volume 227) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 227) (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Idioma
Inglés
N° páginas
250
Encuadernación
Tapa Blanda
ISBN13
9780443193248
N° edición
1

Coherent Electron Microscopy: Designing Faster and Brighter Electron Sources (Volume 227) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 227) (en Inglés)

Hawkes Peter W.,HÿTch Martin (Autor) · Academic Press · Tapa Blanda

Coherent Electron Microscopy: Designing Faster and Brighter Electron Sources (Volume 227) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 227) (en Inglés) - Hawkes Peter W.,HÿTch Martin

Libro Nuevo Importado
Envío: 19 a 25 días háb.
$ 7,073.81$ 3,196.24
-55%
Costos de importación incluídos en el precio ✅
Libro Nuevo

Quedan 100 unidades

$ 3,196.24
¡Envío Gratis!  Llega entre el 03 Dic y el 14 Dic a CUAUHTÉMOC, Ciudad de México. Seleccionar ubicación

Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista

Ir a Mis Listas
Calcula el costo de envío

Reseña del libro "Coherent Electron Microscopy: Designing Faster and Brighter Electron Sources (Volume 227) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 227) (en Inglés)"

Coherent Electron Microscopy: Designing Faster and Brighter Electron Sources, Volume 227 in the Advances in Imaging and Electron Physics series, merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. Chapters in this new release cover Characterization of nanomaterials properties using FE-TEM, Cold field-emission electron sources: From higher brightness to ultrafast beams, Every electron counts: Towards the development of aberration optimized and aberration corrected electron sources, and more. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains.

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

¿El libro es original?

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.

¿En qué Idioma está escrito el libro?

El libro está escrito en Inglés.

¿Cuál es la encuadernación de este libro?

La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes