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portada Bias Temperature Instability for Devices and Circuits (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Año
2013
Idioma
Inglés
N° páginas
810
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN13
9781461479086
N° edición
2014

Bias Temperature Instability for Devices and Circuits (en Inglés)

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Reseña del libro "Bias Temperature Instability for Devices and Circuits (en Inglés)"

This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

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El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.

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