Name: An Introduction to Logic Circuit Testing (en Inglés)
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Author: Lala, Parag K.
ISBN: 9783031797842

portada An Introduction to Logic Circuit Testing (en Inglés)

An Introduction to Logic Circuit Testing (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Parag K. Lala

Editorial

Springer

Idioma

Inglés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9783031797842

N° edición

Categorías

Electrónica: circuitos y componentes
Robótica
Arquitectura y diseño lógico de ordenadores

An Introduction to Logic Circuit Testing (en Inglés)

Parag K. Lala (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "An Introduction to Logic Circuit Testing (en Inglés)"

An Introduction to Logic Circuit Testing provides a detailed coverage of techniques for test generation and testable design of digital electronic circuits/systems. The material covered in the book should be sufficient for a course, or part of a course, in digital circuit testing for senior-level undergraduate and first-year graduate students in Electrical Engineering and Computer Science. The book will also be a valuable resource for engineers working in the industry. This book has four chapters. Chapter 1 deals with various types of faults that may occur in very large scale integration (VLSI)-based digital circuits. Chapter 2 introduces the major concepts of all test generation techniques such as redundancy, fault coverage, sensitization, and backtracking. Chapter 3 introduces the key concepts of testability, followed by some ad hoc design-for-testability rules that can be used to enhance testability of combinational circuits. Chapter 4 deals with test generation and response evaluation techniques used in BIST (built-in self-test) schemes for VLSI chips. Table of Contents: Introduction / Fault Detection in Logic Circuits / Design for Testability / Built-in Self-Test / References