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Encontramos 17 Libros para ming tan

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Near and far (en Inglés)

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Ming Tan
Marshall Cavendish International, 2021, Tapa Dura, Nuevo
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dcto.

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$ 232.25

Clean & Dirty (en Inglés)

Clean & Dirty (en Inglés)

Ming Tan
Marshall Cavendish International, 2021, Tapa Dura, Nuevo
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$ 232.25

The Charms of China

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Tan Ming
China Tourism Press,, Tapa Blanda, Usado
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Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés)

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Tan, Cher Ming
Mdpi AG, Tapa Dura, Nuevo
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Simulated Annealing (en Inglés)

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Tan, Cher Ming
Intechopen, Tapa Dura, Nuevo
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dimensional analysis: with case studies in mechanics (en Inglés)

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tan, qing-ming
springer, 2011, Nuevo
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malaysian fast food brand equity (en Inglés)

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tan, teck ming
lap lambert academic publishing, 2012, Nuevo
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electromigration in ulsi interconnections

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cher ming tan
world scientific pub co inc, Nuevo
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Dimensional Analysis: With Case Studies in Mechanics

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Qing-Ming Tan
Springer, Tapa Blanda, Nuevo
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$ 2,212.00

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level (en Inglés)

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Tan, Cher Ming Und Feifei He:
Springer, Tapa Blanda, Nuevo
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (en Inglés)

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Tan, Cher Ming ; Li, Wei ; Gan, Zhenghao
Springer, Tapa Blanda, Nuevo
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Graphene and Vlsi Interconnects (en Inglés)

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Cher-Ming Tan; Udit Narula; Vivek Sangwan
Jenny Stanford Publishing, 2021, 1 edición, Tapa Dura, Nuevo
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$ 1,710.51

Reliability and Failure Analysis of High-Power led Packaging (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials) (en Inglés)

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Cher Ming Tan; Preetpal Singh
Woodhead Publishing, 1 edición, Tapa Blanda, Nuevo
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Bayesian Missing Data Problems: EM, Data Augmentation and Noniterative Computation (en Inglés)

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Tan, Ming T. ; Tian, Guo-Liang ; Ng, Kai Wang
CRC Press, Tapa Dura, Nuevo
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$ 3,913.99

$ 1,956.99

Sliding Mode Control of Switching Power Converters: Techniques and Implementation (en Inglés)

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Tan, Siew-Chong ; Lai, Yuk-Ming ; Tse, Chi-Kong
CRC Press, 2011, Tapa Dura, Nuevo
50%
dcto.

$ 6,484.89

$ 3,242.45

Bayesian Missing Data Problems: Em, Data Augmentation and Noniterative Computation (Chapman & Hall (en Inglés)

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Ming T. Tan; Guo-Liang Tian; Kai Wang Ng
Crc Pr Inc, 1 edición, Tapa Blanda, Nuevo
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$ 2,074.91

$ 1,141.20

applications of finite element methods for reliability studies on ulsi interconnections

applications of finite element methods for reliability studies on ulsi interconnections

tan, cher ming/ gan, zhenghao/ li, wei/ hou, yuejin
springer verlag, Tapa Dura, Nuevo
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dcto.

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$ 2,212.00

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