Name: VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, Vdat 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (en Inglés)
Price: 2489.64 MXN
Availability: InStock
Author: Rajaram, S. ; Balamurugan, N. B. ; Gracia Nirmala Rani, D.
ISBN: 9789811359491

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portada VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, Vdat 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Rajaram, S. ; Balamurugan, N. B. ; Gracia Nirmala Rani, D.

Idioma

Inglés

N° páginas

722

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 3.8 cm

Peso

1.02 kg.

ISBN13

9789811359491

Categorías

Hardware | soporte físico del ordenador
Redes y comunicaciones informáticas
Ciencias de la computación

VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, Vdat 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (en Inglés)

Rajaram, S. ; Balamurugan, N. B. ; Gracia Nirmala Rani, D. (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, Vdat 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (en Inglés)"

This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.