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portada Techniques and Challenges for 300 mm Silicon: Processing, Characterization, Modelling and Equipment
Formato
Libro Físico
Colección
European Materials Research Society Symposia Proceedings
Año
1999
N° páginas
206
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
27.90 x 21.00 cm
ISBN13
9780080436098

Techniques and Challenges for 300 mm Silicon: Processing, Characterization, Modelling and Equipment

G. Ritter;P. Wagner;H. , Germany) Richter (Autor) · Elsevier Science Ltd · Tapa Dura

Techniques and Challenges for 300 mm Silicon: Processing, Characterization, Modelling and Equipment - G. Ritter;P. Wagner;H. , Germany) Richter

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Reseña del libro "Techniques and Challenges for 300 mm Silicon: Processing, Characterization, Modelling and Equipment"

Includes papers that cover the E-MRS conference on Techniques and Challenges for 300 mm Silicon: Processing, Characterization, Modeling and Equipment. This book covers a wide range of subjects, financial issues, fab concepts, crystal growth, wafer process development, material and defect issues, and wafer characterization.

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