¡PAPÁ TAMBIÉN LEE LIBROS HASTA 70% OFF + ENVÍO GRATIS!  Ver más

menú

0
  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional
Envío gratis
portada Microelectronics Manufacturing Diagnostics Handbook (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
633
Encuadernación
Tapa Blanda
Dimensiones
25.4 x 17.8 x 3.4 cm
Peso
1.15 kg.
ISBN13
9781461358404

Microelectronics Manufacturing Diagnostics Handbook (en Inglés)

Abraham Landzberg (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Microelectronics Manufacturing Diagnostics Handbook (en Inglés) - Landzberg, Abraham

Libro Nuevo

$ 4,625.71

$ 8,410.38

Ahorras: $ 3,784.67

45% descuento
  • Estado: Nuevo
  • Quedan 91 unidades
Origen: Estados Unidos (Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el Martes 06 de Agosto y el Lunes 19 de Agosto.
Lo recibirás en cualquier lugar de México entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.

Reseña del libro "Microelectronics Manufacturing Diagnostics Handbook (en Inglés)"

The world of microelectronics is filled with cusses measurement systems, manufacturing many success stories. From the use of semi- control techniques, test, diagnostics, and fail- ure analysis. It discusses methods for modeling conductors for powerful desktop computers to their use in maintaining optimum engine per- and reducing defects, and for preventing de- formance in modem automobiles, they have fects in the first place. The approach described, clearly improved our daily lives. The broad while geared to the microelectronics world, has useability of the technology is enabled, how- applicability to any manufacturing process of similar complexity. The authors comprise some ever, only by the progress made in reducing their cost and improving their reliability. De- of the best scientific minds in the world, and fect reduction receives a significant focus in our are practitioners of the art. The information modem manufacturing world, and high-quality captured here is world class. I know you will diagnostics is the key step in that process. find the material to be an excellent reference in of product failures enables step func- Analysis your application. tion improvements in yield and reliability. which works to reduce cost and open up new Dr. Paul R. Low applications and technologies. IBM Vice President and This book describes the process ofdefect re- of Technology Products General Manager duction in the microelectronics world.

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes