Compartir
infrared ellipsometry on semiconductor layer structures (en Inglés)
Schubert (Autor)
·
springer publishing map
· Libro Físico
infrared ellipsometry on semiconductor layer structures (en Inglés) - schubert
$ 4,724.33
$ 8,589.69
Ahorras: $ 3,865.36
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Lunes 17 de Junio y el
Viernes 28 de Junio.
Lo recibirás en cualquier lugar de México entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "infrared ellipsometry on semiconductor layer structures (en Inglés)"
the study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. this book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. it describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects. a broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.
