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portada amorphous and plycrystalline thin-film silicon science and technology 2008: volume 1066 (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Ilustrado por
Editorial
Autor
Año
2008
Idioma
Inglés
N° páginas
496
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
23.1 x 16.0 x 3.3 cm
Peso
0.80 kg.
ISBN
1605110361
ISBN13
9781605110363
Categorías

amorphous and plycrystalline thin-film silicon science and technology 2008: volume 1066 (en Inglés)

Arokia Nathan (Ilustrado por) · Andrew Flewitt (Ilustrado por) · Jack Hou (Ilustrado por) · Cambridge University Press · Tapa Dura

amorphous and plycrystalline thin-film silicon science and technology 2008: volume 1066 (en Inglés) - Nathan, Arokia ; Flewitt, Andrew ; Hou, Jack

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Reseña del libro "amorphous and plycrystalline thin-film silicon science and technology 2008: volume 1066 (en Inglés)"

Amorphous, nano-, micro- and polycrystalline silicon thin films and associated alloys are used in a plethora of applications ranging from active matrix displays and imaging arrays to solar panels. These applications make large-area electronics the fastest growing semiconductor technology today, pushing material requirements and device performance to new limits. This book brings together researchers to share their expertise. Materials addressed include amorphous, nano-, micro- and polycrystalline silicon, and their alloys with germanium, carbon and other elements. Topics include: the understanding of growth processes; producing high-quality films at high growth rates or low temperatures; in situ characterization techniques for monitoring growth; understanding amorphous, mixed-phase and crystalline structures, along with the principles for augmenting crystallinity; developing post-deposition processes; identifying fundamental issues in electronic structure and carrier transport in 3D, 2D and 1D; understanding metastability and the role of hydrogen; integrating photovoltaic devices and thin-film electronics into systems on glass, flexible polymeric and other nonconventional substrates; and designing, fabricating and testing devices and applications.

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